長江存儲日前新增多條專利信息，其中一條名稱為“集成電路測試設(shè)備及其測試方法”，公布號為CN115078971A。
專利摘要顯示，本申請?zhí)峁┝艘环N集成電路測試設(shè)備及其測試方法。包括：接收第一指令，第一指令指示對至少一個目標被測器件執(zhí)行測試操作；響應于第一指令，產(chǎn)生驅(qū)動信號集和選擇信號；基于選擇信號，結(jié)合第一映射表，確定多個被測器件組中每個測試通道的狀態(tài)，狀態(tài)包括使能狀態(tài)、去使能狀態(tài)其中之一；第一映射表包括測試通道與被測器件組、被測器件的待控管腳、選擇信號之間的對應關(guān)系；每個被測器件組中的每個被測器件均具有對應的選擇信號；根據(jù)驅(qū)動信號集，結(jié)合第二映射表，使得測試通道輸出驅(qū)動信號；第二映射表包括多個被測器件的多個待控管腳與驅(qū)動信號集中的多個驅(qū)動信號之間的對應關(guān)系；利用驅(qū)動信號，對目標被測器件執(zhí)行測試操作。
【來源：集微網(wǎng)】
