7月7日，Nova LTD公司宣布一家領先的模擬和混合信號設備制造商最近采用了其解決方案，用于先進過程控制。Nova已經向客戶的幾個制造現(xiàn)場交付了大量的設備。
現(xiàn)在的模擬設備制造需要對超薄膜進行更嚴格的過程控制，以縮短設備合格和成品率增長的時間。Nova的x射線光電子能譜技術(XPS)是專門用于這一目的的，由于其優(yōu)越的技術優(yōu)勢，使其在其他傳統(tǒng)方法中脫穎而出。近年來，Nova徹底改變了材料計量，提供各種工藝步驟的內聯(lián)成分和薄膜工藝控制。
Nova的總裁兼首席執(zhí)行官Eitan Oppenhaim表示:“這一選擇表明了我們的材料計量組合在各種IC器件上有著巨大潛力。這一新的勝利鞏固了我們的戰(zhàn)略，使我們的材料計量超越了Nova的傳統(tǒng)市場。我們獨特差異化解決方案的能力使我們能夠提供更廣泛的可能性，這與集成電路制造價值鏈不同步驟的客戶們產生了良好的共鳴。”
【來源：集微網】
