在人工智能蓬勃發(fā)展的數(shù)字時(shí)代，高效存儲(chǔ)與快速數(shù)據(jù)調(diào)用已成為AI應(yīng)用不可或缺的核心要素。無(wú)論是智能推薦系統(tǒng)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理，還是深度學(xué)習(xí)模型的復(fù)雜參數(shù)訓(xùn)練，固態(tài)硬盤（SSD）都以其出眾的讀寫速度和穩(wěn)定性，在AI基礎(chǔ)設(shè)施中扮演著關(guān)鍵角色。然而，一個(gè)鮮為人知的事實(shí)是，微觀世界中的中子輻射正悄然成為威脅AI數(shù)據(jù)安全與系統(tǒng)穩(wěn)定性的重要因素。
中子，這種不帶電的亞原子粒子，廣泛存在于宇宙射線、高海拔地區(qū)以及核電站周邊等環(huán)境中。當(dāng)中子穿透SSD存儲(chǔ)單元時(shí)，可能導(dǎo)致存儲(chǔ)芯片中的比特值發(fā)生意外翻轉(zhuǎn)，即原本存儲(chǔ)的“0”變?yōu)椤?”，“1”變?yōu)椤?”。在AI應(yīng)用的海量數(shù)據(jù)處理場(chǎng)景下，這種微小的變化可能引發(fā)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤、模型訓(xùn)練偏差，甚至導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰，對(duì)AI應(yīng)用的可靠性和效率構(gòu)成嚴(yán)重威脅。
作為國(guó)內(nèi)唯一在中子輻照測(cè)試中取得高分的SSD廠商，憶聯(lián)攜手中國(guó)散裂中子源，在遠(yuǎn)超地表中子輻射量的模擬環(huán)境下，對(duì)PCIe Gen5 ESSD UH812a進(jìn)行了高可靠性測(cè)試。中國(guó)散裂中子源是國(guó)際領(lǐng)先的高科技多學(xué)科應(yīng)用平臺(tái)，其大氣中子輻照譜儀可為航空、電力電子、智能駕駛、高性能存儲(chǔ)與計(jì)算等領(lǐng)域提供大氣中子單粒子效應(yīng)的風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估和測(cè)試服務(wù)。
在測(cè)試中，憶聯(lián)UH812a與國(guó)內(nèi)外同代際產(chǎn)品一同接受了中子注量率為9.6×10^4 n/(cm2·s) (En≥1MeV)的持續(xù)輻照，直至盤片失效。值得注意的是，這一中子注量率遠(yuǎn)超國(guó)內(nèi)地面條件，即便是中子量最多的阿里地區(qū)，其中子注量率也僅為5.09×10^2 n/(cm2·h) (En≥1MeV)。因此，這次測(cè)試相當(dāng)于在模擬宇宙射線峰值環(huán)境的極限條件下，對(duì)SSD的穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行了嚴(yán)苛考驗(yàn)。
測(cè)試結(jié)果顯示，在模擬的嚴(yán)苛工作負(fù)載環(huán)境下，憶聯(lián)UH812a SSD的正常運(yùn)行時(shí)間遠(yuǎn)超國(guó)內(nèi)外同類產(chǎn)品。在高中子環(huán)境下，SSD的使用壽命基準(zhǔn)值為232秒，相當(dāng)于常規(guī)環(huán)境下的5年使用壽命。而憶聯(lián)UH812a的實(shí)際運(yùn)行時(shí)間達(dá)到了416秒，比國(guó)內(nèi)某友商同類產(chǎn)品長(zhǎng)60%，比國(guó)際某友商同類產(chǎn)品長(zhǎng)400%。這意味著在模擬環(huán)境的中子注量率下，憶聯(lián)UH812a的耐用性和可靠性顯著優(yōu)于同類產(chǎn)品，能夠充分滿足用戶在高中子環(huán)境下的使用需求。
測(cè)試還顯示，在高中子注量環(huán)境下，憶聯(lián)UH812a SSD的平均每小時(shí)故障率遠(yuǎn)低于上一代產(chǎn)品及國(guó)內(nèi)外同代際產(chǎn)品。具體而言，UH812a的單個(gè)硬盤平均每小時(shí)故障率為3.22E-06，而上一代產(chǎn)品為4.18E-06，國(guó)內(nèi)外同代際產(chǎn)品則為6.95E-06。這表明在正常使用情況下，UH812a出現(xiàn)故障的可能性更小，能夠?yàn)橛脩籼峁└€(wěn)定、持久的存儲(chǔ)服務(wù)，有效保障數(shù)據(jù)的安全和業(yè)務(wù)的連續(xù)性。
憶聯(lián)UH812a SSD之所以能夠在中子輻射環(huán)境下表現(xiàn)出色，得益于其多重?cái)?shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)的運(yùn)用。除了優(yōu)秀的硬件配置外，UH812a還采用了增強(qiáng)的LDPC糾錯(cuò)算法、智能錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正（ECC）模式及不可糾正錯(cuò)誤（UNC）保護(hù)模式。LDPC糾錯(cuò)算法能夠提供比Flash顆粒要求更高的糾錯(cuò)能力，實(shí)現(xiàn)小于1E-18的不可修復(fù)錯(cuò)誤比特率（UBER）。ECC模式能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)狀態(tài)，快速定位并糾正比特翻轉(zhuǎn)錯(cuò)誤。而UNC保護(hù)模式則能在面對(duì)不可糾正錯(cuò)誤時(shí)，通過隔離錯(cuò)誤區(qū)域防止數(shù)據(jù)進(jìn)一步損壞和丟失，全方位保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行與業(yè)務(wù)連續(xù)性。
隨著數(shù)據(jù)中心紛紛落戶高海拔地區(qū)，中子輻射對(duì)數(shù)據(jù)中心及AI應(yīng)用的影響日益凸顯。在高海拔環(huán)境下，數(shù)據(jù)中心可能受到中子影響，導(dǎo)致數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，進(jìn)而引發(fā)模型訓(xùn)練偏差、分析結(jié)果失真等問題，增加運(yùn)營(yíng)成本。而采用經(jīng)過大氣中子測(cè)試的ESSD，如憶聯(lián)UH812a，則能夠顯著降低SSD失效率，確保AI應(yīng)用如智能決策系統(tǒng)、智能客服等的穩(wěn)定運(yùn)行，保障數(shù)據(jù)的真實(shí)性與完整性，減少運(yùn)維成本及人力，有效降低用戶總擁有成本（TCO）。
在AI驅(qū)動(dòng)的智能時(shí)代，選擇經(jīng)過嚴(yán)苛大氣中子測(cè)試的憶聯(lián)UH8系列SSD，意味著選擇了更穩(wěn)定的系統(tǒng)運(yùn)行、更精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)分析、更高效的業(yè)務(wù)推進(jìn)以及更低的運(yùn)維成本。這將為企業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型與技術(shù)創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)可靠的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)基礎(chǔ)。
